קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
בדיקה הומוגנית של היבריציזציה כפולה או משולשת באמצעות מדידות מרובות תחת תנאים משתנים
פטנט 150844
כללי
מספר פטנט:
150844
שם האמצאה:
בדיקה הומוגנית של היבריציזציה כפולה או משולשת באמצעות מדידות מרובות תחת תנאים משתנים
שם באנגלית:
HOMOGENEOUS ASSAY OF DUPLEX OR TRIPLEX HYBRIDIZATION BY MEANS OF MULTIPLE MEASUREMENTS UNDER VARIED CONDITIONS
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2001/053526
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
24/01/2000
דין קדימה
490273
ארה"ב (US)
23/01/2001
בקשה בינלאומית
PCT/IB/2001/000077
הלשכה הבינלאומית (IB)
22/07/2002
בקשת PCT
150844
ישראל (IL)
13/04/2008
פרסום לאומי
150844
ישראל (IL)
מגיש
שם:
INGENEUS INC.
כתובת:
C/O DELOITTE CORPORATE SERVICES 40A, CENTRAL AMERICAN BOULEVARD BELIZE CITY, BELIZE , BZ
מדינה:
בליז
מגיש
שם:
INGENEUS CORPORATION
כתובת:
CHANCERY HOUSE HIGH STREET BRIDGETOWN , BB
מדינה:
ברבדוס
מסירת הודעות
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
סוכן
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
בדיקת הכלאה משולשת מתווכת על ידי קטיון
בדיקה של עוצמת פלואורסצנציה עבור הכלאות כפולות ומשולשות של חומצת גרעין בתמיסה באמצעות מקשרים פלואורסצנטים
קביעת היברידיזציה חד-שלבית על אתר
מפעיל וערכה לבדיקת היברידיזציה של חומצות גרעין
מערכת דפוס דו–צדי