מערך סינטילציה גבישי בעל הבחנה מופחתת של קרינה מפוזרת - פטנט 149745 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 149745
שם האמצאה:: מערך סינטילציה גבישי בעל הבחנה מופחתת של קרינה מפוזרת
שם באנגלית:: SCINTILLATION CRYSTAL ASSEMBLY WITHREDUCED DETECTION OF SCATTER RADIATION

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2002/025310	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
22/09/2000	דין קדימה	668226	ארה"ב (US)
21/09/2001	בקשה בינלאומית	PCT/US/2001/029699	ארה"ב (US)
20/05/2002	בקשת PCT	149745	ישראל (IL)
10/11/2002	פרסום לאומי	149745	ישראל (IL)

מגיש

שם:: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.

פטנטים דומים