שיטה לשיפור מדידות באמצעות אינטרפרומטר לייזר - פטנט 143453 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 143453
שם האמצאה:: שיטה לשיפור מדידות באמצעות אינטרפרומטר לייזר
שם באנגלית:: METHOD FOR IMPROVING MEASUREMENTS BY LASER INTERFEROMETER

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2000/033021	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
02/12/1998	דין קדימה	982603	פינלנד (FI)
26/11/1999	בקשה בינלאומית	PCT/FI/1999/000978	פינלנד (FI)
30/05/2001	בקשת PCT	143453	ישראל (IL)
17/06/2007	פרסום לאומי	143453	ישראל (IL)

מגיש

שם:: LEONID MIHALJOV
כתובת:: MALMINKUJA 19 JOROINEN , FI
מדינה:: פינלנד

מסירת הודעות

שם:: ג'יי אמ בי דייויס בן-דוד
כתובת:: מרכז בק למדע, הרטום 8, הר חוצבים, ירושלים 9777401
מדינה:: ישראל
טלפון:: 02-5714777
פקס:: 02-5714455
דוא"ל:: ipo@jmb.co.il

סוכן

שם:: ג'יי אמ בי דייויס בן-דוד
כתובת:: מרכז בק למדע, הרטום 8, הר חוצבים, ירושלים 9777401
מדינה:: ישראל
טלפון:: 02-5714777
פקס:: 02-5714455
דוא"ל:: ipo@jmb.co.il

מסמכים

פטנטים דומים