שיטה והתקן המשתמשים בבוחן לייזר אינפרה אדום למדידת מתחים ישירות במעגל משולב - פטנט 141195 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 141195
שם האמצאה:: שיטה והתקן המשתמשים בבוחן לייזר אינפרה אדום למדידת מתחים ישירות במעגל משולב
שם באנגלית:: METHOD AND APPARATUS USING AN INFRARED LASER PROBE FOR MEASURING VOLTAGES DIRECTLY IN AN INTEGRATED CIRCUIT

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2000/008478	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
07/08/1998	דין קדימה	130741	ארה"ב (US)
26/07/1999	בקשה בינלאומית	PCT/US/1999/016275	ארה"ב (US)
31/01/2001	בקשת PCT	141195	ישראל (IL)
15/12/2004	פרסום לאומי	141195	ישראל (IL)

מגיש

שם:: INTEL CORPORATION
כתובת:: 2200 MISSION COLLEGE BLVD. SANTA CLARA, CALIFORNIA 95052 , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: וולף, ברגמן וגולר
כתובת:: ירושלים 91013
מדינה:: ישראל
טלפון:: 02-6242255
פקס:: 6242266

סוכן

שם:: וולף, ברגמן וגולר
כתובת:: ירושלים 91013
מדינה:: ישראל
טלפון:: 02-6242255
פקס:: 6242266

מסמכים

פטנטים דומים