קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
מערכים של עמודה ממוזערת ובוחן של מיקרוסקופ סריקה
פטנט 140735
כללי
מספר פטנט:
140735
שם האמצאה:
מערכים של עמודה ממוזערת ובוחן של מיקרוסקופ סריקה
שם באנגלית:
INTEGRATED MICROCOLUMN AND SCANNINGPROBE MICROSCOPE ARRAYS
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2000/067290
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
05/05/1999
דין קדימה
305975
ארה"ב (US)
04/05/2000
בקשה בינלאומית
PCT/US/2000/012241
ארה"ב (US)
04/01/2001
בקשת PCT
140735
ישראל (IL)
10/02/2002
פרסום לאומי
140735
ישראל (IL)
מגיש
שם:
ETEC SYSTEMS, INC.
פטנטים דומים
מערך ננואלקטרודות
מערכי פיקסלים
מערך אחסון זכרון
מיפוי מערכי גייט
מערכות בעלות צפיפות גבוהה ושיטות להכנתן