התקן חישוב לרמת סטית ערך מדיד, התקןלהערכת צפיפות הסתברותית והתקן לחשובהיסטוגרמה לשמוש בהתקנים אלו - פטנט 138744 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 138744
שם האמצאה:: התקן חישוב לרמת סטית ערך מדיד, התקןלהערכת צפיפות הסתברותית והתקן לחשובהיסטוגרמה לשמוש בהתקנים אלו
שם באנגלית:: DEGREE OF OUTLIER CALCULATION DEVICE AND PROBABILITY DENSITY ESTIMATION DEVICE AND HISTOGRAM CALCULATION DEVICE FOR USE THEREIN

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
29/09/1999	דין קדימה	11-275437	יפן (JP)
28/09/2000	בקשה לאומית	138744	ישראל (IL)
31/10/2001	פרסום לאומי	138744	ישראל (IL)

מגיש

שם:: NEC CORPORATION

פטנטים דומים