כללי
מספר פטנט:
134456
שם האמצאה:
שיטה והתקן לייצור מערך נתוני בסיס לשימוש באנליזה ספקטרוסקופית
שם באנגלית:
METHOD AND APPARATUS FOR GENERATING BASIS SETS FOR USE IN SPECTROSCOPIC ANALYSIS
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 1999/009395 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 911588 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/US/1998/015673 ארה"ב (US)
בקשת PCT 134456 ישראל (IL)
פרסום לאומי 134456 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
INSTRUMENTATION METRICS INC.
כתובת:
7470 WEST CHANDLER BOULEVARD, CHANDLER, AZ , US
מדינה:
ארה"ב
  מסירת הודעות
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
  סוכן
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il