קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
התקן ושיטה לקבלה בחזרה של מפתחי וחושפי נגדים מושפעי קרינת-אור
פטנט 129454
כללי
מספר פטנט:
129454
שם האמצאה:
התקן ושיטה לקבלה בחזרה של מפתחי וחושפי נגדים מושפעי קרינת-אור
שם באנגלית:
APPARATUS AND METHOD FOR RECOVERING PHOTORESIST DEVELOPERS AND STRIPPERS
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
1998/017483
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
23/10/1996
דין קדימה
740025
ארה"ב (US)
21/10/1997
בקשה בינלאומית
PCT/US/1997/019039
ארה"ב (US)
15/04/1999
בקשת PCT
129454
ישראל (IL)
10/02/2002
פרסום לאומי
129454
ישראל (IL)
מגיש
שם:
PHOENANKH CORP.
כתובת:
100 PENCADER DRIVE NEWARK DELAWARE , US
מדינה:
ארה"ב
מסירת הודעות
שם:
וולף, ברגמן וגולר
כתובת:
ירושלים 91013
מדינה:
ישראל
טלפון:
02-6242255
פקס:
6242266
סוכן
שם:
וולף, ברגמן וגולר
כתובת:
ירושלים 91013
מדינה:
ישראל
טלפון:
02-6242255
פקס:
6242266
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
אוכסימים של דיבנזוציקלו - הפטנון ודיבזוציקלו - אוקטאנון והכנתם
בנזותיאזופינים ובנזותיאזוצינים והכנתם
4- ו-7-בנזופוראניל קרבאמטים ותיונוקרבאמטים
תהליך והתקן למילוי ולסגירה של מיכלים
שיטה והתקן להכנסת שכבות חפצים, כגוןפירות וכדומה, לתיבות