שיטה והתקן לבקרת חשיפה של מערך גלאי CMOS - פטנט 128991 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 128991
שם האמצאה:: שיטה והתקן לבקרת חשיפה של מערך גלאי CMOS
שם באנגלית:: METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING EXPOSURE OF A CMOS SENSOR ARRAY

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	1998/015115	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
30/09/1996	דין קדימה	720563	ארה"ב (US)
27/08/1997	בקשה בינלאומית	PCT/US/1997/015221	ארה"ב (US)
15/03/1999	בקשת PCT	128991	ישראל (IL)
12/09/2002	פרסום לאומי	128991	ישראל (IL)

מגיש

שם:: INTEL CORPORATION
כתובת:: 2200 MISSION COLLEGE BOULEVARD SANTA CLARA, CALIFORNIA 95052 , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: וולף, ברגמן וגולר
כתובת:: ירושלים 91013
מדינה:: ישראל
טלפון:: 02-6242255
פקס:: 6242266

סוכן

שם:: וולף, ברגמן וגולר
כתובת:: ירושלים 91013
מדינה:: ישראל
טלפון:: 02-6242255
פקס:: 6242266

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים