קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
שיטה והתקן לניתוח דוגמה בתמיסה בספקטרומטר מסות
פטנט 127217
כללי
מספר פטנט:
127217
שם האמצאה:
שיטה והתקן לניתוח דוגמה בתמיסה בספקטרומטר מסות
שם באנגלית:
MASS SPECTROMETER METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING A SAMPLE IN A SOLUTION
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
23/11/1998
בקשה לאומית
127217
ישראל (IL)
04/01/2004
פרסום לאומי
127217
ישראל (IL)
מגיש
שם:
AVIV AMIRAV
כתובת:
5 HAYAAR ALLEY HOD HASHARON 45269 , IL
מדינה:
ישראל
מסירת הודעות
שם:
וולף, ברגמן וגולר
כתובת:
ירושלים 91013
מדינה:
ישראל
טלפון:
02-6242255
פקס:
6242266
סוכן
שם:
וולף, ברגמן וגולר
כתובת:
ירושלים 91013
מדינה:
ישראל
טלפון:
02-6242255
פקס:
6242266
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
שיטה לספקטרומטרית ומתקן לקביעת יסודות של חומרים
ספקטרומטר מסות
מערכת ספקטרומטר
ספקטרומטר-מסה לריק נמוך
שיטה והתקן המבוססים על להבה לאיבחוןדוגמא