בחן לזיהוי רכיבים באמצעות חלקיקים ברי-גילוי באור מפוזר - פטנט 126544 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 126544
שם האמצאה:: בחן לזיהוי רכיבים באמצעות חלקיקים ברי-גילוי באור מפוזר
שם באנגלית:: ANALYTE ASSAY USING SCATTERED-LIGHT DETECTABLE PARTICLES

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	1997/040181	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
25/04/1996	דין קדימה	60/016383	ארה"ב (US)
17/04/1997	בקשה בינלאומית	PCT/US/1997/006584	ארה"ב (US)
11/10/1998	בקשת PCT	126544	ישראל (IL)
31/08/2004	פרסום לאומי	126544	ישראל (IL)

מגיש

שם:: GENICON SCIENCES INC.
כתובת:: 6450-E106 LUSK BOULEVARD SAN DIEGO CA , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: איתן, פרל, לצר וכהן צדק
כתובת:: רחוב שנקר 7, הרצליה 46733
מדינה:: ישראל
טלפון:: 09-9726000
פקס:: 03-9709001
דוא"ל:: ilpto@pczlaw.com

סוכן

שם:: איתן, פרל, לצר וכהן צדק
כתובת:: רחוב שנקר 7, הרצליה 46733
מדינה:: ישראל
טלפון:: 09-9726000
פקס:: 03-9709001
דוא"ל:: ilpto@pczlaw.com

מסמכים

פטנטים דומים