מעגל למדידת JTAG בעל עכבה גבוהה - פטנט 124782 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 124782
שם האמצאה:: מעגל למדידת JTAG בעל עכבה גבוהה
שם באנגלית:: HIGH IMPEDANCE TEST MODE FOR JTAG

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
19/12/1995	דין קדימה	574593	ארה"ב (US)
26/09/1996	בקשה לאומית	124782	ישראל (IL)
14/06/2001	פרסום לאומי	124782	ישראל (IL)

מגיש

שם:: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
כתובת:: SAMSUNG MAIN BUILDING 250 2-KA TAEPYUNG-RO, CHUNG-KU SEOUL , KR
מדינה:: דרום קוריאה

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים