שיטה לבדיקת מיתוג פלט/קלט תוך שימוש ב- JTAG - פטנט 124556 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 124556
שם האמצאה:: שיטה לבדיקת מיתוג פלט/קלט תוך שימוש ב- JTAG
שם באנגלית:: I/O TOGGLE TEST METHOD USING JTAG

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
06/02/1996	דין קדימה	596043	ארה"ב (US)
26/09/1996	בקשה לאומית	124556	ישראל (IL)
14/06/2001	פרסום לאומי	124556	ישראל (IL)

מגיש

שם:: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
כתובת:: 416, MAETAN-DONG, PALDAL-GU, SUWON-CITY, KYUNGKI-DO 442-373 , KR
מדינה:: דרום קוריאה

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים