קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
מערכת לבקרת טמפרטורה קרוב להתקן מוחדר בזמן תהליכי תהודה מגנטית
פטנט 121673
כללי
מספר פטנט:
121673
שם האמצאה:
מערכת לבקרת טמפרטורה קרוב להתקן מוחדר בזמן תהליכי תהודה מגנטית
שם באנגלית:
SYSTEM TO MONITOR TEMPERATURE NEAR AN INVASIVE DEVICE DURING MAGNETIC RESONANCE PROCEDURES
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
09/09/1996
דין קדימה
714840
ארה"ב (US)
01/09/1997
בקשה לאומית
121673
ישראל (IL)
17/02/2000
פרסום לאומי
121673
ישראל (IL)
מגיש
שם:
GENERAL ELECTRIC COMPANY
כתובת:
1 RIVER ROAD , SCHENECTADY, N.Y. 12345 , US
מדינה:
ארה"ב
מסירת הודעות
שם:
זליגסון גבריאלי ושות'
כתובת:
רח' יבנה 31, תל אביב 61013
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-5661446
פקס:
03-5608458
דוא"ל:
mail@sgl.co.il
סוכן
שם:
זליגסון גבריאלי ושות'
כתובת:
רח' יבנה 31, תל אביב 61013
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-5661446
פקס:
03-5608458
דוא"ל:
mail@sgl.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
שיטה והתקן לטיפולים חודרניים מדוייקים
סימולציה של הליכים פולשניים
מכשיר לניטור טמפרטורה לא–חודרני
מכשיר מיעיט פולשנות
התקן לניטור לא חודרני ורציף של לחץ דם