שיטה ומכשיר אופטי לגילוי פגמים בתדר נמוך - פטנט 119850 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 119850
שם האמצאה:: שיטה ומכשיר אופטי לגילוי פגמים בתדר נמוך
שם באנגלית:: OPTICAL METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING LOW FREQUENCY DEFECTS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
17/12/1996	בקשה לאומית	119850	ישראל (IL)
21/11/2000	פרסום לאומי	119850	ישראל (IL)

מגיש

שם:: PROLASER LTD.
כתובת:: 4 HAAVODA ST., INDUSTRIAL ZONE ROSH HA'AYIN , IL
מדינה:: ישראל

מגיש/ממציא

שם:: PETER VOKHMIN
כתובת:: IL
מדינה:: ישראל

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים