כללי
מספר פטנט:
119008
שם האמצאה:
שיטת שימוש במערכת עבור מדידה ביקורתואיפוס
שם באנגלית:
A METHOD OF USING A SYSTEN FOR MEASURING, INSPECTION AND CALIBRATION
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
בקשה לאומית 119008 ישראל (IL)
פרסום לאומי 119008 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
DAN SELA