כללי
מספר פטנט:
114509
שם האמצאה:
שכבות זיאוליט בעלות רוחב גביש מבוקר תהליך לייצורן ותהליך הפרדה
שם באנגלית:
ZEOLITE LAYERS WITH CONTROLLED CRYSTAL WIDTH, A PROCESS FOR PREPARING SAME AND A SEPARATION PROCESS
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
דין קדימה 272361 ארה"ב (US)
בקשה לאומית 114509 ישראל (IL)
פרסום לאומי 114509 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
EXXON RESEARCH AND ENGINEERING COMPANY