קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
שיטה לבקרת הווצרות משקע פוספטי-מתכתי בתסיסות של תאים בצפיפות גבוהה
פטנט 113497
כללי
מספר פטנט:
113497
שם האמצאה:
שיטה לבקרת הווצרות משקע פוספטי-מתכתי בתסיסות של תאים בצפיפות גבוהה
שם באנגלית:
METHOD FOR CONTROLLING METALLOPHOSPHATE PRECIPITATION IN HIGH CELL DENSITY FERMENTATIONS
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
28/04/1994
דין קדימה
235573
ארה"ב (US)
25/04/1995
בקשה לאומית
113497
ישראל (IL)
11/01/2001
פרסום לאומי
113497
ישראל (IL)
מגיש
שם:
AMGEN, INC.
כתובת:
ONE AMGEN CENTER DRIVE THOUSAND OAKS, CALIFORNIA 91320-1789 , US
מדינה:
ארה"ב
מסירת הודעות
שם:
סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:
שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:
ישראל
טלפון:
08-9455122
פקס:
08-9454556
דוא"ל:
colbpat@stc.co.il
סוכן
שם:
סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:
שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:
ישראל
טלפון:
08-9455122
פקס:
08-9454556
דוא"ל:
colbpat@stc.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
תא חשמלי בעל צפיפות אנרגיה גבוהה
שיטה והתקנים להפרדת מוצרים בעלי צפיפות שונה
התקן ושיטה לשיקוע מים
מבלט לציקה למבנים קרמיים עם נקבים להבלטה ו/או תאים בעלי צפיפות גבוהה
מכפל בעל צפיפות גבוהה