שיטה והתקן לבדיקת לומיניסצונציה משופרת - פטנט 100867 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 100867
שם האמצאה:: שיטה והתקן לבדיקת לומיניסצונציה משופרת
שם באנגלית:: METHOD AND APPARATUS FOR IMPROVED LUMINESCENCE ASSAYS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
06/02/1991	דין קדימה	652427	ארה"ב (US)
03/02/1992	דין קדימה	827270	ארה"ב (US)
03/02/1992	דין קדימה	827269	ארה"ב (US)
04/02/1992	בקשה לאומית	100867	ישראל (IL)
08/12/1995	פרסום לאומי	100867	ישראל (IL)

מגיש

שם:: IGEN INTERNATIONAL, INC.
כתובת:: 1530 EAST JEFFERSON STREET, ROCKVILLE, MARYLAND , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: איתן, פרל, לצר וכהן צדק
כתובת:: רחוב שנקר 7, הרצליה 46733
מדינה:: ישראל
טלפון:: 09-9726000
פקס:: 03-9709001
דוא"ל:: ilpto@pczlaw.com

סוכן

שם:: איתן, פרל, לצר וכהן צדק
כתובת:: רחוב שנקר 7, הרצליה 46733
מדינה:: ישראל
טלפון:: 09-9726000
פקס:: 03-9709001
דוא"ל:: ilpto@pczlaw.com

מסמכים

פטנטים דומים